HS · HTS · 9031.41.00.20
US · HTS

9031.41.00.20

For inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices

HS-6 9031.41
Belasting —
Eenheid No.
Jaar 2026

Hetzelfde als HS-6 in andere landen.

AE · 903141 AR · 903141 AU · 90314100 AU · 903141 BR · 903141 BR · 9031.41.00 CA · 903141 CA · 90314100 CL · 903141 CN · 903141 CO · 903141 E2 · 9031410000 EG · 903141 EU · 90314100 GB · 903141 GB · 9031410000 ID · 903141 IN · 903141 JP · 903141000 JP · 903141 KR · 903141 MY · 903141 NZ · 9031410000 NZ · 903141 PH · 903141 SA · 903141 SG · 903141 SG · 90314100 TH · 903141 TR · 90.31.41.00.00.00 TR · 903141 VN · 903141 ZA · 903141 MX ·

Deze informatie is slechts ter begeleiding. Tariefcodes en maatregelen kunnen variëren naargelang de datum van inwerkingtreding, productkenmerken, oorsprong en beoordeling door de desbetreffende douaneautoriteit. Controleer met een officiële bron of expert voordat u uw definitieve verklaring doet.