HS · NCM · 9031.41.00
BR · NCM

9031.41.00

-- Para controle de <i>wafers</i> ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados), ou para controle de fotomáscaras ou retículos utilizados na fabricação de dispositivos semicondutores (incluindo os circuitos integrados)

HS-6 9031.41
Droit
Unité
Année