HS · HTS · 9031.41.00
US · HTS

9031.41.00

For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits)

HS-6 9031.41
税率 %0.00
单位 —
年 2026

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AE · 903141 AR · 903141 AU · 90314100 AU · 903141 BR · 903141 BR · 9031.41.00 CA · 903141 CA · 90314100 CL · 903141 CN · 903141 CO · 903141 E2 · 9031410000 EG · 903141 EU · 90314100 GB · 903141 GB · 9031410000 ID · 903141 IN · 903141 JP · 903141000 JP · 903141 KR · 903141 MY · 903141 NZ · 9031410000 NZ · 903141 PH · 903141 SA · 903141 SG · 903141 SG · 90314100 TH · 903141 TR · 90.31.41.00.00.00 TR · 903141 VN · 903141 ZA · 903141 MX ·

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