HS · CN · 90314100
EU · CN

90314100

For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits)

HS-6 9031.41
Vergi —
Birim —
Yıl 2026

Aynı HS-6 diğer ülkelerde

AE · 903141 AR · 903141 AU · 90314100 AU · 903141 BR · 903141 BR · 9031.41.00 CA · 903141 CA · 90314100 CL · 903141 CN · 903141 CO · 903141 E2 · 9031410000 EG · 903141 GB · 903141 GB · 9031410000 ID · 903141 IN · 903141 JP · 903141000 JP · 903141 KR · 903141 MY · 903141 NZ · 9031410000 NZ · 903141 PH · 903141 SA · 903141 SG · 903141 SG · 90314100 TH · 903141 TR · 90.31.41.00.00.00 TR · 903141 US · 903141 US · 9031.41.00 VN · 903141 ZA · 903141 MX ·

Bu bilgiler yalnızca rehberlik amaçlıdır. Tarife kodları ve tedbirler yürürlük tarihi, ürün özellikleri, menşe ve ilgili gümrük idaresinin değerlendirmesine göre değişebilir. Nihai beyan öncesi resmi kaynak veya uzman ile doğrulayın.