HS · CN · 90314970
EU · CN

90314970

For inspecting masks (other than photomasks) used in manufacturing semiconductor devices; for measuring surface particulate contamination on semiconductor devices

HS-6 9031.49
Arancel —
Unidad No.
Año 2026

Mismo SA-6 en otros países

AE · 903149 AR · 903149 AU · 90314900 AU · 903149 BR · 903149 BR · 903149 CA · 903149 CA · 90314910 CL · 903149 CN · 903149 CO · 903149 E2 · 9031491000 EG · 903149 GB · 903149 GB · 9031490000 ID · 903149 IN · 903149 JP · 903149000 JP · 903149 KR · 903149 MY · 903149 NZ · 9031490010 NZ · 903149 PH · 903149 SA · 903149 SG · 903149 SG · 90314900 TH · 903149 TR · 90.31.49.10.00.00 TR · 903149 US · 903149 US · 9031.49.10.00 VN · 903149 ZA · 903149 MX ·

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