HS · NCM · 9031.41.00
BR · NCM

9031.41.00

-- Para controle de <i>wafers</i> ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados), ou para controle de fotomáscaras ou retículos utilizados na fabricação de dispositivos semicondutores (incluindo os circuitos integrados)

HS-6 9031.41
Abgabe —
Einheit —
Jahr —

Dasselbe HS-6 in anderen Ländern

AE · 903141 AR · 903141 AU · 90314100 AU · 903141 CA · 903141 CA · 90314100 CL · 903141 CN · 903141 CO · 903141 E2 · 9031410000 EG · 903141 EU · 90314100 GB · 903141 GB · 9031410000 ID · 903141 IN · 903141 JP · 903141000 JP · 903141 KR · 903141 MY · 903141 NZ · 9031410000 NZ · 903141 PH · 903141 SA · 903141 SG · 903141 SG · 90314100 TH · 903141 TR · 90.31.41.00.00.00 TR · 903141 US · 903141 US · 9031.41.00 VN · 903141 ZA · 903141 MX ·

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