HS
· HTS
· 9031.41.00
US · HTS
9031.41.00
For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits)
نفس HS-6 في دول أخرى
AE · 903141
AR · 903141
AU · 90314100
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